半導體控溫設(shè)備在冷源和熱源的溫度下進行測試的工作，那么半導體控溫設(shè)備測量可重復性以及可復制性也是很重要的，這些在測試中需要注意什么呢？

　　半導體控溫設(shè)備測量可重復性和可復制性是用于評估測試設(shè)備對相同的測試對象反復測試而能夠得到重復讀值的能力的參數(shù)。也就是說是用于描述測試設(shè)備的穩(wěn)定性和一致性的一個指標。對于半導體測試設(shè)備，這一指標尤為重要。從數(shù)學角度來看，就是指實際測量的偏移度，測試工程師必須盡可能減少設(shè)備的固定值，過高的值表明測試設(shè)備或方法的不穩(wěn)定性。

　　半導體控溫設(shè)備可復制性是說同一個測試系統(tǒng)在不同操作員反復操作下得到一致的測試結(jié)果的能力。 當然，在現(xiàn)實世界里，沒有哪一臺測試設(shè)備可以反復獲得*一致的測試結(jié)果，通常會受到5個因素的影響：測試標準、測試方法、測試儀器、測試人員、環(huán)境因素 所有這些因素都會影響到每次測試的結(jié)果，測試結(jié)果的準確度只有在確保以上5個因素的影響控制到較小程度的情況下才能保證。

　　半導體控溫設(shè)備是需要用戶根據(jù)具體工況進行型號選擇的，為了避免選型過大或者過小，建議還是聯(lián)系無錫冠亞專業(yè)技術(shù)人員進行型號選擇比較好。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）